不同类型封装的切割分离特点对比

不同类型的半导体封装,其 PKG 切割的特点和挑战差异显著。QFN 封装是目前切割难度较高的类型之一:其底部有大面积裸露铜焊盘和侧面 I/O 焊端,而铜材料的延展性是金属中最为突出的,切割时极易产生细长毛刺,如果毛刺长度超过客户的规格要求(通常为 40 微米以内),就可能造成相邻引脚短路或影响 SMT 焊接质量。SOP/QFP 等有引脚封装则以Trim & Form 冲压工艺为主流,其难点在于切筋模具的磨损管理和成型精度的长期稳定性。

BGA/LGA 等基板类封装通常采用锯切方式,由于切割路径同时涉及 BT 树脂/ABF 基板材料、铜走线和阻焊油墨等多种异质材料层叠,刀片在这些材料界面上受到的阻力不一致,容易出现分层(Delamination)和崩边。此外,近年来快速发展的系统级封装(SiP)模块,其内部可能同时包含塑封料、金属屏蔽罩、陶瓷基板甚至嵌入式被动元件,切割难度远高于单一材料体系,常常需要采用“激光预切+刀片终切”的复合策略。


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